關(guān)于氣候環(huán)境試驗(yàn)箱溫度均勻性的相關(guān)問(wèn)題

試驗(yàn)箱（室）工作空間的試驗(yàn)溫度是否均勻是一個(gè)非常重要的問(wèn)題，因?yàn)槿绻麥囟炔痪鶆虺^(guò)了允許偏差，則受試樣品的試驗(yàn)條件達(dá)不到一致，有的樣品或樣品某一部分，試驗(yàn)溫度偏高，有的偏低，從而產(chǎn)生過(guò)試驗(yàn)或欠試驗(yàn)的問(wèn)題，使試驗(yàn)的再現(xiàn)性差，試驗(yàn)得出的數(shù)據(jù)不可靠，zui終使試驗(yàn)歸于失敗。本文擬對(duì)氣候環(huán)境試驗(yàn)箱（室）的溫度均勻性有關(guān)問(wèn)題提出一些看法。
一、各種標(biāo)準(zhǔn)表述試驗(yàn)箱（室）溫度均勻性的指標(biāo)及其計(jì)算方法

1、均勻度：以溫度均勻度指標(biāo)來(lái)表示試驗(yàn)箱的溫度均勻性，例如有以下一些標(biāo)準(zhǔn)：

1）英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)BS389-1965《實(shí)驗(yàn)室濕熱箱技術(shù)條件》：規(guī)定為在*次達(dá)到設(shè)定溫度兩小后，用溫差熱電偶連續(xù)測(cè)試兩小時(shí)，分別計(jì)算每一測(cè)試點(diǎn)與中心點(diǎn)的溫差平均值，其中zui大者即為溫度均勻度，其大小不得超過(guò)規(guī)定指標(biāo)±0.5℃。

2）日本試驗(yàn)機(jī)工業(yè)會(huì)，恒溫恒濕箱的性能試驗(yàn)方法：測(cè)溫元件置于上、下四角及中心點(diǎn)，上下四角測(cè)溫元件距箱壁距離為各自邊長(zhǎng)的1/6且不小于50㎜處。當(dāng)溫度達(dá)到恒定狀態(tài)后，對(duì)各測(cè)試點(diǎn)每隔一分鐘測(cè)試一次，共測(cè)十次以上，計(jì)算每一測(cè)試點(diǎn)與中心點(diǎn)的溫差的平均值，其中zui大者即為溫度均勻度。（ESPEC亦采用此指標(biāo)）。

3）美國(guó)ASTMD2436-68《電氣絕緣用強(qiáng)制對(duì)流實(shí)驗(yàn)室烘箱技術(shù)條件》：用9只熱電偶，一只在距工作室?guī)缀沃行?/span>25㎜內(nèi)，其余8只在上下四角且距箱壁50㎜處。當(dāng)達(dá)到設(shè)定溫度并穩(wěn)定16小時(shí)后，盡快記錄9支熱電偶的溫度數(shù)據(jù)，然后，每隔5分鐘記錄一次，共記錄得到45個(gè)數(shù)據(jù)。計(jì)算45個(gè)數(shù)據(jù)的平均值作為箱溫。從45個(gè)數(shù)據(jù)中選出兩個(gè)zui大數(shù)和兩個(gè)zui小數(shù)分別各自減去平均數(shù)，然后從四個(gè)差值中選出兩個(gè)zui大差值并求其平均值，此值就表述箱內(nèi)溫度均勻度。

4）中國(guó)JB/T5520—91《干燥箱技術(shù)條件》：對(duì)各測(cè)試點(diǎn)連續(xù)測(cè)試四次，時(shí)間≤20min，計(jì)算各測(cè)試點(diǎn)四次測(cè)得的平均值與中心點(diǎn)四次測(cè)試的平均值之差，其中zui大值與zui高工作溫度之比即干燥箱的溫度均勻度，以百分比表示。

5）中國(guó)GB10586-89《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》。各測(cè)試點(diǎn)除中心點(diǎn)外，其余各點(diǎn)距箱壁為各自邊長(zhǎng)的1/10。當(dāng)溫度達(dá)到規(guī)定值并穩(wěn)定2h后，每隔2min測(cè)試各測(cè)試點(diǎn)溫度一次，在30min內(nèi)共測(cè)15次，再隔30min再測(cè)一次，以后每隔1h測(cè)一次。利用30min內(nèi)15次的測(cè)試數(shù)據(jù)，分別算出每次數(shù)據(jù)中zui高與zui低溫度之差再求其平均值，即為溫度均勻度。

2、溫度偏差：以溫度偏差指標(biāo)來(lái)要求試驗(yàn)箱工作空間的溫度均勻性，如以下一些標(biāo)準(zhǔn)：

 1）在美軍標(biāo)MIL-STD-810D，4.4.1試驗(yàn)條件允差中規(guī)定“試樣*被空氣包圍（必要的支承點(diǎn)除外），試驗(yàn)區(qū)測(cè)區(qū)測(cè)理系統(tǒng)的溫度和包圍試件各處的溫度梯度應(yīng)分別在試驗(yàn)溫度的±2℃以內(nèi)和不超過(guò)每米1℃或總的zui大值為2.2℃（試件不工作）”

此標(biāo)準(zhǔn)中用±2℃的溫度偏差和1℃/M的溫度梯度來(lái)要求箱內(nèi)工作空間的溫度均勻性。

2）在美軍標(biāo)MIL-STD-202F，2.2.1及MIL-STD-883C，4.5.8中要求工作區(qū)空間內(nèi)任一點(diǎn)的溫度，在給定時(shí)間內(nèi)偏離基準(zhǔn)點(diǎn)不超過(guò)±3℃（即為容許偏差）。

3）在IEC68號(hào)出版物及GB2423中，對(duì)試驗(yàn)箱工作空間的溫度均勻性要求以“容差”即對(duì)標(biāo)稱(chēng)溫度的容許偏差表述。對(duì)容差大小，在高溫箱中規(guī)定為±2℃，在低溫箱中規(guī)定為±3℃。

4）在IEC68-2-3，2.1的注中“溫度±2℃的容差是由于考慮到有測(cè)量的誤差，緩慢的溫度變化和工作空間的溫度波動(dòng)度等”。

在IEC216號(hào)出版物第四篇老化烘箱中，定義“溫度偏差”是“由于溫度波動(dòng)度和溫度梯度組合而成的誤差”。

5）GB／T5170•21996《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備》，規(guī)定“溫度偏差”為試驗(yàn)箱溫度性能指標(biāo)的*檢定項(xiàng)目。溫度偏差的檢定方法是：當(dāng)工作空間指示點(diǎn)溫度*次達(dá)到標(biāo)稱(chēng)溫度后穩(wěn)定2h。測(cè)量各測(cè)試點(diǎn)溫度，每2min記錄一次各點(diǎn)的溫度，在30min內(nèi)共測(cè)量15次。工作空間各測(cè)試點(diǎn)的實(shí)測(cè)zui高溫度和實(shí)測(cè)zui低溫度與標(biāo)稱(chēng)溫度的上、下偏差定為設(shè)備在該標(biāo)稱(chēng)溫度下的溫度偏差。

3、溫度偏差和溫度均勻度兩種表述方法的比較

1）用溫度均勻度指標(biāo)雖可表示箱內(nèi)工作空間溫度均勻性的好或差，但由于在計(jì)算中都采用了多次平均值的方法，從而把各點(diǎn)的溫度波動(dòng)度因素基本上去掉了。然而對(duì)于試驗(yàn)設(shè)備的溫度性能指標(biāo)只標(biāo)出溫度均勻度是不夠的，還必須有溫度波動(dòng)度指標(biāo)，即各點(diǎn)溫度隨時(shí)間而變化的大小，才能全面描述箱內(nèi)溫度場(chǎng)的變化尤其當(dāng)溫度波動(dòng)較大的情況下。

2）溫度偏差不但反映了工作空間各點(diǎn)溫度的位置誤差，同時(shí)也包括了各點(diǎn)溫度隨時(shí)間而變化的誤差即溫度波動(dòng)度。因此溫度偏差更能說(shuō)明箱內(nèi)的溫度均勻性，一般無(wú)需再測(cè)試驗(yàn)箱的溫度均勻度和溫度波動(dòng)度。只有當(dāng)某些試驗(yàn)設(shè)備對(duì)溫度波動(dòng)度有特殊要求時(shí)，如對(duì)濕熱箱，才標(biāo)出溫度波動(dòng)度。因?yàn)闈駸嵯錅囟炔▌?dòng)度超過(guò)±0.5℃時(shí)，會(huì)帶來(lái)較大的濕度波動(dòng)，增大濕度誤差，從而超過(guò)濕度允許偏差。

GB/T5170.2—1996，溫度試驗(yàn)設(shè)備的檢定方法中，對(duì)溫度性能指標(biāo)只規(guī)定檢定溫度偏差，而對(duì)溫度均勻度未作規(guī)定必須檢定，只在附錄B中提示了溫度波動(dòng)度、溫度均勻度的檢定方法，這樣的規(guī)定是非常正確的。

3）溫度均勻度指標(biāo)，由于表示各點(diǎn)溫度平均值與中心點(diǎn)溫度平均值的差值，所以有正負(fù)號(hào)，只有國(guó)標(biāo)的溫度均勻度，因未與中心點(diǎn)比較或與標(biāo)稱(chēng)溫度比較，故沒(méi)有正負(fù)號(hào)，所以沒(méi)有溫度偏差表示方法清楚準(zhǔn)確。

4）目前國(guó)內(nèi)一些環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)仍要求有溫度波動(dòng)度、溫度均勻度和溫度偏差三項(xiàng)指標(biāo)，顯然沒(méi)有必要。建議在修訂這些標(biāo)準(zhǔn)時(shí)采用溫度偏差指標(biāo)，zui多加上一個(gè)溫度波動(dòng)度指標(biāo)就很全面了。而且采用溫度偏差符合美軍標(biāo)、國(guó)軍標(biāo)，和電工委員會(huì)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。

二、試驗(yàn)箱（室）溫度不均勻產(chǎn)生的原因

1）試驗(yàn)箱的結(jié)構(gòu)在很大程度上影響工作中間溫度均勻，由于結(jié)構(gòu)難于*對(duì)稱(chēng)，從而對(duì)溫度均勻造成不利影響。如圖示一常用的低溫箱或濕熱箱結(jié)構(gòu)。大門(mén)在前，空調(diào)室在箱后部，上送風(fēng)下回風(fēng)。顯然這種結(jié)構(gòu)左右對(duì)稱(chēng)性好，可較易達(dá)到左、右溫度均勻，但結(jié)構(gòu)上、下不對(duì)稱(chēng)，前后也*不同，對(duì)工作空間溫度產(chǎn)生了不均勻影響。盡管如此，這種單風(fēng)道結(jié)構(gòu)如設(shè)計(jì)處理得當(dāng)，實(shí)踐證明工作室從0.l～300m3，之間都可使用，其溫度偏差都可滿足標(biāo)準(zhǔn)要求。

2）由于箱壁的熱傳導(dǎo)，而產(chǎn)生漏熱（高溫箱）或漏冷（低溫箱）等熱損失，為了補(bǔ)償熱損失必然會(huì)有送風(fēng)溫差，高溫箱的送風(fēng)溫度高于箱內(nèi)工作溫度，低溫箱的送風(fēng)溫度則低于箱內(nèi)工作溫度。由于必然存在的送風(fēng)溫差使工作室內(nèi)產(chǎn)生了溫度不均勻。

3）由于箱壁六面?zhèn)鳠嵯禂?shù)不等，有的有穿線孔等局部傳熱．使箱壁溫度不均勻，從而使箱壁幅射對(duì)流傳熱也不均勻，影響溫場(chǎng)均勻。

4）箱體的密封性不好，比如大門(mén)漏氣，從而影響工作空間的溫場(chǎng)均勻。

5）如果檢測(cè)溫度偏差要求工作室內(nèi)放置試品，當(dāng)試品體積過(guò)大，或放置的方式或位置不恰當(dāng)，使空氣對(duì)流受阻．將產(chǎn)生較大的溫度偏差。

三、提高氣候環(huán)境試驗(yàn)箱（室）溫度均勻性減小溫度偏差的一些方法

1、減小送風(fēng)溫差和加大送風(fēng)量

送風(fēng)溫差和送風(fēng)量的大小取決于冷負(fù)荷（對(duì)低溫試驗(yàn)箱）或熱負(fù)荷（對(duì)高溫試驗(yàn)箱）的大小。以低溫箱為例，當(dāng)?shù)蜏叵湟烟幱谀骋坏蜏叵碌暮銣貭顟B(tài)時(shí)，此時(shí)的冷負(fù)荷應(yīng)與送人工作室風(fēng)的制冷量相等，即

Q=V/3600•ρ•γ•△t（w）

∴V=3600Q/•ρ•γ•△t（m3/h）

式中V送風(fēng)量（m3/h）

ρ干空氣的密度（kg/m3）

γ空氣的定壓比熱（J/kg•℃）

△t送風(fēng)溫差，等于出風(fēng)口溫度減工作室溫度（℃）

Q=Q1+Q2+Q3+Q4+Q5+Q6

式中Q1箱體圍護(hù)結(jié)構(gòu)傳熱產(chǎn)生的冷負(fù)荷（w）

Q2觀察窗、穿線孔等局部傳熱的冷負(fù)荷（w）

Q3風(fēng)機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)由機(jī)械能轉(zhuǎn)為熱能的冷負(fù)荷（w）

Q4照明燈發(fā)熱而產(chǎn)生的冷負(fù)荷（w）

Q5發(fā)熱試品，由于工作時(shí)發(fā)熱而產(chǎn)生的冷負(fù)荷（w）

Q6其它冷負(fù)荷（w）

Q總的冷負(fù)荷（w）

在一定的恒溫狀態(tài)下，ρ、γ為常數(shù)，送風(fēng)量與送風(fēng)溫差成反比，為了提高箱內(nèi)溫度均勻性和減小溫度波動(dòng)，就需減小At，從而增加送風(fēng)量v。但是，△t過(guò)小則v會(huì)太大，從而增加運(yùn)行費(fèi)?；蚴瓜鋬?nèi)的風(fēng)速過(guò)高，不符合試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)的要求。一般送風(fēng)溫差可取△t=1～3℃為宜。

對(duì)于高溫試驗(yàn)箱，道理是一樣的。公式（1）仍適用，只是冷負(fù)荷改為熱負(fù)荷，而熱負(fù)荷所包含的內(nèi)容有所變化而已。

2、提高試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的合理性、完善性。盡量作到結(jié)構(gòu)對(duì)稱(chēng)，如左右、上、下風(fēng)道；如用兩臺(tái)風(fēng)機(jī)，應(yīng)采用一臺(tái)左旋一臺(tái)右旋，使出風(fēng)均勻。如有必要，可在出風(fēng)口安裝調(diào)風(fēng)板，調(diào)節(jié)風(fēng)向，使箱內(nèi)溫度均勻；注意箱體的密封性，防止局部漏氣，選擇優(yōu)良性能的保溫隔熱材料，足夠的保溫層厚度以減少熱損失；箱體內(nèi)膽與外殼之間的連接件應(yīng)有熱隔離措施以減少局部漏熱。從公式（1）可以看到減小冷負(fù)荷（或熱負(fù)荷）Q就可以減小送風(fēng)量，或減小送風(fēng)溫差。

3、在試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)允許條件下提高風(fēng)速，以增強(qiáng)空氣在箱內(nèi)的流動(dòng)，消除死區(qū)，從而使箱內(nèi)的溫度較為均勻。對(duì)某些要求風(fēng)量大而風(fēng)速小的試驗(yàn)箱，如冰箱試驗(yàn)室，可采用箱頂孔板送風(fēng)，從而達(dá)到風(fēng)速小，風(fēng)量大室內(nèi)溫度均勻的目的。

4、在使用試驗(yàn)箱時(shí)要特別注意試品的體積、重量，以及在試驗(yàn)箱工作空間的擺放位置，有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定試品總體積小于工作室的1／5，以留出足夠的通風(fēng)空間，試品的總重量為50～80kg／m3，在各迎風(fēng)面上試品的面積小于諒迎風(fēng)截面積的1／3，以利于風(fēng)的流動(dòng)。這些規(guī)定對(duì)于箱內(nèi)溫度均勻，溫度偏差不超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)要求起到很好的作用。

5、提高試驗(yàn)箱的控制精度，減小溫度波動(dòng)度，從而可減小溫度偏差。對(duì)于高溫試驗(yàn)箱，對(duì)加熱功率進(jìn)行P1D連續(xù)調(diào)節(jié)可以減小溫度波動(dòng)。對(duì)于低溫試驗(yàn)箱，為了減小溫度波動(dòng)，通常采用熱平衡方法控溫，即達(dá)到設(shè)定溫度后，制冷機(jī)仍常開(kāi)，而用受控的加熱功率來(lái)平衡多余的制冷量。為了避免過(guò)大的冷熱沖擊，浪費(fèi)太多能源，常采用調(diào)節(jié)制冷量的措施，減小恒溫時(shí)的制冷量，從而所需平衡的加熱量就會(huì)減少，這樣就節(jié)省了能量，又提高了控制精度。

溫度傳感器的位置對(duì)控制精度有較大影響。為了使其感溫反應(yīng)靈敏，一般將傳感器置于出風(fēng)口附近，從而可提高控制精度，減小溫度波動(dòng)度，zui終減小溫度偏差。

6、調(diào)整溫度場(chǎng)中值，可以減小溫度偏差：溫度上偏差和溫度下偏差常常是不相等的，如果此時(shí)溫度上偏差或下偏差超過(guò)允許偏差，但上、下偏差之差的二分之一仍小于允許偏差時(shí)，則可對(duì)設(shè)備的溫度場(chǎng)進(jìn)行適當(dāng)調(diào)整，從而使調(diào)整后的溫度偏差小于允許偏差。

CB／T5170.2—1996《電工電于產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法、溫度試驗(yàn)設(shè)備》8.2.1.1中有“在檢定過(guò)程中，如果發(fā)現(xiàn)設(shè)備工作空間溫度上偏差或下偏差超出允許偏差值時(shí)，應(yīng)檢查溫度場(chǎng)中值是否偏離標(biāo)稱(chēng)值，若偏離標(biāo)稱(chēng)值應(yīng)對(duì)設(shè)備溫度場(chǎng)進(jìn)行調(diào)整”，調(diào)整值按下式：

△Ta=Tm-TN            （2）

Tm=（Tmax+Tmin）/2       （3）

式中△Ta溫度場(chǎng)調(diào)整值，℃；

Tm溫度場(chǎng)中值，℃；

TN標(biāo)稱(chēng)溫度值，℃；

Tmax各測(cè)試點(diǎn)在30min（或24h）內(nèi)的實(shí)測(cè)zui高溫度值，℃；

Tmin各測(cè)試點(diǎn)在30min（或24h）內(nèi)的實(shí)測(cè)zui低溫度值，℃。

但以上調(diào)整，必須在上、下偏差之差的二分之一小于允許偏差，即

（△Tmax△Tmin）/2<1△T1        （4）

由△Tmax=△Tmax-Tn，△Tmin=△Tmin-Tn代人上式

得：（Tmax- TN）-（ Tmin- TN）/2=（Tmax-Tmin）/2<1△T 1  （5）

式中1△T 1允許偏差；℃；

△Tmax溫度上偏差，℃；

△Tmin溫度下偏差；℃。

zui后得出必須zui高溫度與zui低溫度之差的一半小于允許偏差，調(diào)整溫場(chǎng)才有意義，調(diào)整后的偏差才會(huì)小于允許偏差。

以上對(duì)氣候環(huán)境試驗(yàn)箱（室）溫度均勻性有關(guān)問(wèn)題的粗略論述，僅供參考，歡迎指正。